Вплив зовнішніх дій на механічні напруження і електронні параметри гетеросистем з С60 фулеренами

L. O. Matveeva, E. F. Venger, R. V. Konakova, O. Yu. Kolyadina, P. L. Neluba, V. V. Shynkarenko

Анотація


В роботі приведені результати комплексного дослідження гетеросистем С60/Si: кристалічної структури і складу плівок, внутрішніх механічних напружень, електронних параметрів плівки і межі поділу плівка-підкладка та впливу на них зовнішніх дій (ультрафіолетового опромінення, термічного відпалу, гамма та мікрохвильового опромінення). Встановлено перевагу мікрохвильової обробки перед іншими: відсутність розпаду фулеренів, повне усунення внутрішніх механічних напружень в гетеросистемі та покращення її електронних параметрів. Розроблені методи усунення розвалу молекул С60 під дією інших обробок. Термічний відпал і УФ-опромінення пропонується проводити у вакуумі, а для -опромінення наносити захисне покриття на поверхню плівки (GeOx або SiOx) для усунення взаємодії фулеренів з киснем. В сонячних комірках з плівками С60 в полімерній матриці на Si встановлена суттєва перевага титанових контактів перед золотими, особливо після мікрохвильової обробки. Контактний опір зменшувався в результаті гібридизації 3d-орбіталей титану і 2р-орбіталей фулеренів з утворенням карбідів ТіхС60 та радіаційно-стимульованої дифузії металів, яка збільшує площу контакту.
Ключові слова: фулерени С60, гетеросистеми, кристалічна і зонна структура плівок, внутрішні механічні напруження, електронні параметри, термічна і радіаційні обробки.

Посилання


. A. V. Yeletskii, V. M. Smirnov, Usp. Fiz. Nauk 161(7), 173 (1991) (in Russian).

. L. K. Narajanan, M. Jamaguchi, Solar energy materials and solar cells 75, 345 (2003).

. N. L. Dmitruk, O. Yu. Borkovskaya, L. A. Matveeva, S. V. Mamikin, D. O. Naumenko, Sbornik nauchnikh statey “Nanostructuri v kondensirovannich sredach” (Minsk, Izdatelskij zentr BGU, 2008), p. 3 (in Russian).

. P. L. Neluba, Tekhnol. Konstr. Elektron. Appar. 6, 35 (2011) (in Russian).

. R. W. Hoffman, Physics of Thin Films. V. III (Mir, Moscow, 1968) (in Russian).

. V. А. Tyagay, O. V. Snitko, Electroreflectance of light in semiconductors (Naukova dumka, Kiev, 1980) (in Russian).

. M. Cardona, Modulation spectroscopy (Mir, Moscow, 1972) (in Russian).

. D. E. Aspnes, Surf. Sci. 37(2), 418 (1973).

. M. Manfredini, C. E. Bottani, P. Milani, J. Appl. Phys. 78(10), 5945 (1995).

. P. C. Eklund, A. M. Rao, Ping Zhou, Ying Wang, J. M. Holden, Thin Solid Films 257(2), 185 (1995).

. E. F. Venger, E. Yu. Kolyadina, L. A. Matveeva, I. N. Matiyuk, P. L. Neluba, E. M. Shpilevsky, Sbornik nauchnikh statey “Nanostructuryu v kondensirovannich sredach” (Minsk, NAS of Belarus, Heat and Mass Transfer Institute A.V. Luikov, 2014) p. 183 (in Russian).

. T. L. Makarova, Semiconductors 35(3), 243 (2001).

. L. A. Matveeva, V. А. Yuhimchuk, P. L. Neluba, E. M. Shpilevsky, V. I. Khivrich, Sbornik nauchnikh trudov «Uglerodniye nanostructuryu» (Minsk, Heat and Mass Transfer Institute A.V. Luikov, 2006) p. 232 (in Russian).

. T. R. Ohno, Y. Chen, S. E. Harvey, G. H. Kroll, P. J. Benning, J. H. Weaver, L. P. F. Chibante, and R. E. Smalley, Phys. Rev. B 47(4), 2389 (1993) (in Russian).


Повний текст: PDF (English)
7 :: 18

Посилання

  • Поки немає зовнішніх посилань.