Трансформація структури при нагріванні та механізм термічного розширення евтектики Sn-Bi

I. I. Shtablavyi, S. I. Mudry, U. I. Liudkevych

Анотація


Методом високотемпературної рентгенівської дифрактометрії та оберненим методом Монте-Карло досліджено структуру ближнього порядку рідкої евтектики Sn-Bi в інтервалі температур 420 – 1120 К. Отримано температурні залежності міжатомних відстаней в межах першої координаційної сфери та об’ємного коефіцієнта термічного розширення. Використовуючи формалізм статистично-геометричного методу Вороного-Делоне досліджено зміну вільного об’єму зі зміною температури. Проведені дослідження дали змогу встановити наявність розмитого структурного перетворення рідкої евтектики і визначити температурну межу цього перетворення. Результати досліджень можуть бути використані для вдосконалення технології формування паяних з’єднань в електроніці та інших суміжних галузях.
Ключові слова: структура ближнього порядку, термічне розширення, вільний об’єм.

Посилання


M. E. Loomans, S. Vaynman, G. Ghosh, M. E. Fine, J Electron Mater. 23, 741 (1994).

A. Rahn, The basics of soldering (NewYork: John Wiely & Sons, 1993).

K. N. Tu, Solderjointtechnology: material, properties, andreliability (NY, USA: Springer 2007).

H. R. Kotadia, P. D. Howes, S. H. Mannan, 54, 1253 (2014).

T. Laurila, V. Vuorinen, J K. Kivilahti, Mater Sci Eng R – Rep. 49, 1 (2005).

T. Laurila, V. Vuorinen, M. Paulasto-Krockel, Mater Sci Eng R – Rep. 68, 1 (2010).

M. Abtew, G. Selvaduray, Mater Sci Eng R – Rep 27, 95 (2000).

F. Hua, Z. Mei, A. Lavagnino, Eutectic Sn–Bi asan alternative Pb-freesolder. In: Proceedings of aninternational summiton lead-freeelectronic sassemblies, IPC Works’99; S/03/08/01/06 (1999).

J. F. Li, S. H.Mannan, M. P. Clode, D. C. Whalley, D. A. Hutt, ActaMater 54, 2907 (2006).

T. B. Massalski, Binary alloy phase diagram (Metals Park, OH: ASM., 1990).

J. Li, S. H. Mannan, M. P. Clode, C. Liu, K. Chen, D. C. Whalley, Trans Compon Packag Technol. 31, 574 (2008).

M. S.Suh, C. J. Park, H. S. Kwon, Materials Chemistry and Physics 110, 95 (2008).

P. T. Vianco, A. C. Kilgo, and R. Grant, Journal of Electronic Materials, 24 (10), (1995).

H. Xiaowu,L. Yulong, Z. Min, Mater Sci: Mater Electron, 24, 2027 (2013).

W. H. Tao, Chem. Mater. 13, 1051(2001).

Y. Waseda, The structure of non crystalline materials (Mc. Graw-Hill, New York, USA, 1980).

S. Takeda, S. Tamakiand Y. Waseda, Journal of the Physical Society of Japan 53(10), 3447 (1984).

S. Mudry, I. Shtablavyi and I. Shevernoga, Physics and Chemistry of Liquids 50(5), 630 (2012).

S. Mudry, I. Shtablavyi, I. Shevernoga, Polish Journal of Chemical Technology, 15(3), 61 (2013).

L. Mingyang, G. Haoran, L. Fang, Z. Min, L. Rongxue, L. Shujing, Journal of Molecular Liquids 204, 27 (2015).

V. K. Pecharsky, P. Y. Zavalij, Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials (Springer, 2008).

D. T. Cromer, J. T. Waber, Acta Crystallogr. 18(5), 104(1965).

N. N. Medvedev, V. P. Voloshin, V. A. Luchnikov, M. L. Gavrilova, J. Comput Chem. 27, 1676 (2006).

W. Aiqing, L. Guo, L. Changsong, J. Erguang, Z. Zhengang, Physica B 369, 51 (2005).


Повний текст: PDF (English)
7 :: 18

Посилання

  • Поки немає зовнішніх посилань.